日本分光TOF載流子遷移率測(cè)試儀

描述 
TOF載流子遷移率測(cè)試儀CMM-250是測(cè)量薄膜電子和空穴的遷移率的有效評(píng)價(jià)系統(tǒng)，主要用于EL元件和太陽(yáng)能電池等測(cè)試。

我們TOF載流子遷移率測(cè)試儀有防噪聲系統(tǒng)和獨(dú)特的信號(hào)處理，明顯降低了噪聲，響應(yīng)速度快，如納米二階和高靈敏度已經(jīng)達(dá)到為了測(cè)量電子和空穴的遷移率?？筛鼡Q不同的模具（作為一個(gè)選項(xiàng)）模具的激光使系統(tǒng)振蕩的波長(zhǎng)范圍從分子與脈沖寬度縮短600P秒熒光.

我們的TOF載流子遷移率測(cè)試儀除了TOF法測(cè)測(cè)量，也可選FET方法測(cè)量。

特點(diǎn)

1、在納米秒的時(shí)間分辨率?以10-7-10-1cm2 / V·秒速度移動(dòng)

  （這可能改變?nèi)Q于樣品的厚度）。

2、有簡(jiǎn)單操作和探針樣品室

3、新設(shè)計(jì)的光學(xué)系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理，能夠獲得高信噪比的資料

規(guī)格

光源：氮激發(fā)光模激光器

氮激光脈沖寬度：600psec

氮激光輸出：250KW＠10Hz

輸出波長(zhǎng)：337.1nm

模具的激光脈沖寬度：400psec(在480nm)

分辨率：測(cè)量時(shí)間小于10納秒

測(cè)量流動(dòng)范圍：10-7 ~ 10-1cm2 / V.秒

(流動(dòng)性不能在這個(gè)范圍內(nèi)測(cè)量)

偏置電壓：0～±500V

負(fù)載電阻：50Ω～100KΩ 5steps

360～720nm（模具可選）

軸的時(shí)間分辨率：8位（平均11位）

同步：光電二極管激勵(lì)光監(jiān)測(cè)系統(tǒng)

個(gè)人電腦

激光控制：激光開/關(guān)

數(shù)據(jù)采集：次把握~ 256***

數(shù)據(jù)分析：數(shù)據(jù)顯示并保存

Y和X軸對(duì)數(shù)轉(zhuǎn)換

遷移時(shí)間和遷移率的計(jì)算